論文 シリコン半導体検出器を用いた450kV X線CT装 額賀 淳/北澤 聡/北澤 聡 450kV X-ray Computed Tomography System Using Silicon Semiconduc […]
解説 論文審査を終えて 辻 正哲 東京理科大学 Principle of Review Masanori TSUJI Tokyo University of Science キーワード 非破壊検査,非破壊試験,コ […]
連載 非破壊検査の歴史 我が国における超音波探傷の歴史 [?] 松山 宏 名誉会員(前湘菱電子(株)・元三菱電機(株)) The Histoy of Ultrasonic Testing in Japan[?] H […]
解説 「コンクリート構造物への非破壊検査の展開」 特別講演(2)─ 橋梁の自動非破壊検査 ─ 金田 尚志 東京大学生産技術研究所 都市基盤安全工学国際研究センター “Symposium on Prospects o […]