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論文 シリコン半導体検出器を用いた450kV X線CT装 額賀 淳/北澤 聡/北澤 聡 450kV X-ray Computed Tomography System Using Silicon Semiconduc […]
解説 論文審査を終えて 辻 正哲 東京理科大学 Principle of Review Masanori TSUJI Tokyo University of Science キーワード 非破壊検査,非破壊試験,コ […]